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[供应信息] TDD-LTE测试卡/FDD-LTE白卡

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主要参数

工作温度:-20-60℃

点击此询价

所在地:广东 深圳

发布时间:2014-12-1

有效期至:2014-4-28

深圳市骏诺达智能卡有限公司

最新供应 | 诚信档案 | 公司介绍

经营模式:产品制造商

诚信指数:126

联系人:胡伟强 点击这里给我发消息

电话:0755-21666852

传真:0755-23469613

网址:http://www.jndcard.com

地址:深圳宝安高树围东4栋3号

邮箱:wq.hu@jndcard.com

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具体介绍

LTE测试白卡为4G主要的综合测试仪器使用的测试卡,它为4G网络提供了一个优良的测试环境。LTE测试白卡不仅从性能和使用寿命上做了很大的改进,还添加了多功能网络的测试,满足了一卡多机的测试,减少了频繁换卡的烦恼,从而提高了生产效率。

主要配合综合测试仪:

罗德和施瓦茨CMU500测试仪

星河亮点4G测试仪

安捷伦4G测试仪


规格参数:85.5*54*0.80

工作温度:-20-60℃

产品包装:中性

拔插次数:理论10万次

产品材质:PVC

产品芯片:CPU卡

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